원리 및 기능

XRD(X선 회절 분석기)는 시료에 X선을 조사했을 때 원자 배열에 따라 산란되는 회절각(Diffraction angle)과 강도(Intensity)를 측정하여 물질의 결정 구조를 분석하는 장비이다. 브래그 법칙(Bragg's Law, )을 원리로 하여, 각 물질이 가지는 고유한 회절 패턴(Fingerprint)을 데이터베이스와 대조함으로써 미지 시료의 성분을 정성 및 정량 분석한다. 데스크탑 형태의 컴팩트한 구조임에도 고출력 X선 튜브와 고감도 검출기를 장착하여 분말(Powder) 시료의 결정상 확인(Phase ID), 결정화도(Crystallinity) 측정 등을 신속하게 수행한다.

기기활용

• 결정 구조 확인 및 불순물 검출: 합성된 무기 화합물, 금속, 세라믹 분말의 결정 구조 분석 및 불순물 검출
• XRD 패턴 기반 정성 분석: 미지 시료의 X선 회절 패턴을 분석하여 구성 성분의 정성적 규명
• 혼합물 정량 분석 및 결정화도 측정: 리트벨트(Rietveld) 분석법을 이용한 혼합물의 정량 분석과 결정화도 평가
• 격자 상수 계산: 박막 시료 또는 고체 재료의 격자 상수를 정밀 계산

 

사양

• X선 발생장치: 30 kV / 10 mA (300 W 출력)
• 고니오미터: 세타/세타(Theta/Theta) 방식
• 각도 범위: -3° ~ 160° (2Theta)
• 정확도: ±0.02° (전체 범위)
• 검출기: LYNXEYE™(1차원 검출기) 또는 신틸레이션 카운터
• 광학계: 가변 슬릿 포함 브래그-브렌타노(Bragg–Brentano) 방식
• 냉각: 내부 수냉식 순환(외부 칠러 불필요)
• 크기: 610(폭) × 600(깊이) × 700(높이) mm
• 중량: 약 95 kg